Để sử dụng toàn bộ tiện ích nâng cao của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
Decontamination of radioactively contaminated surfaces - Method for testing and assessing the ease of decontamination
Lời nói đầu
TCVN 6854 : 2001 hoàn toàn tương đương với ISO 8690:1988.
TCVN 6854 : 2001 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC 85 Năng lượng hạt nhân biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học, Công nghệ và Môi trường (nay là Bộ Khoa học và Công nghệ) ban hành.
Tiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại Khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
Lời giới thiệu
Tiêu chuẩn này nhằm xác định các điều kiện khách quan để thử nghiệm tính dễ tẩy xạ của các bề mặt. Phương pháp thử nghiệm này được xây dựng để thu nhập dữ liệu cho phép so sánh tính dễ tẩy xạ của các vật liệu có bề mặt khác nhau. Phương pháp này có thể sử dụng cho các thử nghiệm so sánh với bất cứ hạt nhân phóng xạ nào trong các dung dịch nước. Việc đánh giá các kết quả của một loạt các phép thử so sánh có thể thực hiện căn cứ vào tốc độ đếm xung tồn dư trung bình. Để có thể xem chất lượng chung của vật liệu bề mặt như là sản phẩm đơn nhất, tiêu chuẩn này quy định việc thử nghiệm và đánh giá dựa trên sự nhiễm xạ của dung dịch có chứa hạt nhân phóng xạ 60Co và 137Cs. Hai hạt nhân phóng xạ này được lựa chọn vì chúng là hai loại nguồn gây nhiễm xạ quan trọng nhất trong công nghiệp hạt nhân. Việc đánh giá kết quả một thử nghiệm riêng lẻ được tiến hành bằng cách sử dụng một bảng đánh giá các tốc độ đếm xung tồn dư cuối cùng dựa trên các thí nghiệm luân phiên.
Việc so sánh trực tiếp kết quả của phương pháp tẩy xạ này với các kết quả thu được khi áp dụng các quy định hoặc tiêu chuẩn quốc gia khác có thể sẽ không hiệu quả hoặc không phù hợp do bản chất khác nhau của phương pháp được sử dụng.
Các phụ lục A, B, C và D là các phụ lục quy định của tiêu chuẩn này.
AN TOÀN BỨC XẠ - TẨY XẠ CHO CÁC BỀ MẶT BỊ NHIỄM XẠ - PHƯƠNG PHÁP THỬ NGHIỆM VÀ ĐÁNH GIÁ TÍNH DỄ TẨY XẠ
Decontamination of radioactively contaminated surfaces - Method for testing and assessing the ease of decontamination
1. Phạm vi và lĩnh vực áp dụng
Đặc tính kỹ thuật được quy định trong tiêu chuẩn này áp dụng cho việc thử nghiệm các bề mặt bị nhiễm xạ.
Dữ liệu về khả năng tẩy xạ thu được khi áp dụng phương pháp thử này không áp dụng cho các hệ thống kỹ thuật mà ở đó các lớp vật chất gây nhiễm xạ được hình thành sau một thời gian dài chịu nhiệt độ và áp suất cao hơn (ví dụ như các vòng sơ cấp của lò phản ứng hạt nhân).
Mục đích của thử nghiệm này là đánh giá tính dễ tẩy xạ của bề mặt trong điều kiện phòng thí nghiệm. Trong ứng dụng thực tế, việc xem xét các tính chất khác, như tính bền hóa, cơ và phóng xạ; và tính ổn định lâu dài khi lựa chọn vật liệu để sử dụng có thể sẽ quan trọng. Cần lưu ý rằng các thử nghiệm tẩy xạ tiếp theo trong điều kiện mô phỏng các hoạt động có thể sẽ cần thiết.
ISO 15, Rolling bearings - Radial bearings - Boudary dimensions - General plan
ISO 273, Fasteners - Clearance holes for bolts and screws
ISO 683-13, Heat-treated steels, alloy steels and free-cutting steels - Part 13: Wrought stainless steels
ISO 2009, Slotted coutersunk head screws (common head style) - Product grade A
ISO 2010, Slotted raise coutersunk head screws
Để xem đầy đủ nội dung và sử dụng toàn bộ tiện ích của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
- 1Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6868:2001 về An toàn bức xạ - Quản lý chất thải phóng xạ - Phân loại chất thải phóng xạ
- 2Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6892:2001 (ISO 11934 : 1997) về An toàn bức xạ - Bức xạ Gamma và tia X - Liều kế bỏ túi kiểu tụ điện đọc gián tiếp hoặc trực tiếp
- 3Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7078-2:2007 (ISO 7503-2 : 1988) về An toàn bức xạ - Đánh giá nhiễm xạ bề mặt - Phần 2: Nhiễm xạ triti trên bề mặt
- 4Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8289:2009 về An toàn bức xạ - Thiết bị chiếu xạ công nghiệp sử dụng nguồn đồng vị gamma - Yêu cầu chung
- 5Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5869:2010 (ISO 3999 : 2004) về An toàn bức xạ - Thiết bị chụp ảnh bằng tia Gamma trong công nghiệp - Yêu cầu kỹ thuật về tính năng, thiết kế và thử nghiệm
- 1Luật Tiêu chuẩn và quy chuẩn kỹ thuật 2006
- 2Nghị định 127/2007/NĐ-CP Hướng dẫn Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật
- 3Quyết định 2226/QĐ-BKHCN năm 2008 công bố tiêu chuẩn quốc gia do Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành
- 4Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6868:2001 về An toàn bức xạ - Quản lý chất thải phóng xạ - Phân loại chất thải phóng xạ
- 5Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6892:2001 (ISO 11934 : 1997) về An toàn bức xạ - Bức xạ Gamma và tia X - Liều kế bỏ túi kiểu tụ điện đọc gián tiếp hoặc trực tiếp
- 6Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7078-2:2007 (ISO 7503-2 : 1988) về An toàn bức xạ - Đánh giá nhiễm xạ bề mặt - Phần 2: Nhiễm xạ triti trên bề mặt
- 7Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8289:2009 về An toàn bức xạ - Thiết bị chiếu xạ công nghiệp sử dụng nguồn đồng vị gamma - Yêu cầu chung
- 8Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5869:2010 (ISO 3999 : 2004) về An toàn bức xạ - Thiết bị chụp ảnh bằng tia Gamma trong công nghiệp - Yêu cầu kỹ thuật về tính năng, thiết kế và thử nghiệm
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6854:2001 (ISO 8690 : 1988) về An toàn bức xạ - Tẩy xạ cho các bề mặt bị nhiễm xạ - Phương pháp thử nghiệm và đánh giá tính dễ tẩy xạ
- Số hiệu: TCVN6854:2001
- Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
- Ngày ban hành: 01/01/2001
- Nơi ban hành: Bộ Khoa học Công nghệ và Môi trường
- Người ký: ***
- Ngày công báo: Đang cập nhật
- Số công báo: Đang cập nhật
- Ngày hiệu lực: Kiểm tra
- Tình trạng hiệu lực: Kiểm tra