Lời nói đầu
TCVN 8734:2012 được chuyển đổi từ Tiêu chuẩn 14 TCN 184:2006 theo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
TCVN 8734:2012 do Viện Khoa học Thủy lợi Việt Nam biên soạn, Bộ Nông nghiệp và Phát triển nông thôn đề nghị, Tổng cục Tiêu chuẩn đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ khoa học và Công nghệ công bố.
ĐÁ XÂY DỰNG CÔNG TRÌNH THỦY LỢI - PHƯƠNG PHÁP PHÂN TÍCH THẠCH HỌC BẰNG SOI KÍNH LÁT MỎNG ĐỂ XÁC ĐỊNH TÊN ĐÁ
Rock for hydraulics engineering construction - Methods of petrographical analysis of thin slice by microscope for determination of rock name
Tiêu chuẩn này quy định phương pháp phân tích thạch học bằng soi kính hiển vi phân cực dùng ánh sáng thấu quang chiếu qua lát mỏng thạch học để xác định thành phần, kiến trúc, cấu tạo của đá làm cơ sở để gọi tên đá, áp dụng cho các loại đá nền, đá vật liệu dùng trong xây dựng công trình thủy lợi.
Trong tiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ và định nghĩa sau đây:
2.1. Phân tích thạch học (petrographical analysis)
Là một dạng phân tích các loại mẫu lát mỏng thạch học (được chuẩn bị như nêu trong phụ lục A), sử dụng kính hiển vi phân cực dùng ánh sáng thấu quang (khúc xạ) chiếu qua để thu thập các thông tin cần thiết về các khoáng vật tạo đá, khoáng vật phụ cũng như các dạng kiến trúc, cấu tạo của đá để gọi chính xác tên đá; đồng thời nghiên cứu về các quá trình hình thành và biến đổi của đá cũng như khả năng khoáng hóa của chúng.
2.2. Phân tích mẫu thạch học sơ bộ (Preliminary petrographical analysis)
Là phân tích với yêu cầu xác định hết tên và mô tả sơ bộ các khoáng vật tạo đá, khoáng vật phụ, các kiểu kiến trúc, cấu tạo của đá và gọi được chính xác tên đá; trong đó, việc đánh giá hàm lượng phần trăm của các khoáng vật chỉ cần ước lượng bằng mắt thường hoặc so sánh với một bản chuẩn cho trước).
2.3. Phân tích mẫu thạch học chi tiết (detailed petrographical analysis)
Là phân tích với yêu cầu xác định hết tên và mô tả chi tiết các khoáng vật tạo đá, khoáng vật phụ, các kiểu kiến trúc, cấu tạo của đá và gọi được chính xác tên đá; trong đó, việc đánh giá hàm lượng phần trăm của các khoáng vật phải được đo chính xác thông qua các thiết bị chuyên dụng (mạng lưới ô vuông, bàn ICA hoặc bằng các phương tiện hiện đại khác).
3.1. Các mẫu lát mỏng thạch học dùng cho soi kính hiển vi phân tích cần được chuẩn bị, gia công theo đúng các quy định nêu tại Phụ lục A của tiêu chuẩn.
3.2. Để đảm bảo việc phân tích mẫu lát mỏng thạch học đạt kết quả cao cần thực hiện các yêu cầu sau:
- Khi đạt lát mỏng lên bàn kính cần phải đưa phần lát mỏng vào tâm bàn kính, dùng bàn kẹp hoặc thanh gim giữ chặt mẫu trên mặt bàn kính;
- Dùng tay hoặc dụng cụ kẹp bàn kính, di chuyển lát mỏng theo từng hàng ngang hoặc hàng dọc theo thứ tự sao cho lát mỏng được lần lượt đi vào trong thị trường của kính hiển vi để quan sát, phát hiện, nghiên cứu được toàn bộ bề mặt của lát mỏng, chú ý không được bỏ sót phần nào của lát mỏng;
- Trong khi di chuyển lát mỏng vừa quan sát, nghiên cứu tất cả các điểm của mẫu để xác định được hết các khoáng vật có trong mẫu đồng thời xác định hết cá
Để xem đầy đủ nội dung Tiêu chuẩn/Quy chuẩn và sử dụng toàn bộ tiện ích của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8734:2012 về Đá xây dựng công trình thủy lợi - Phương pháp phân tích thạch học bằng soi kính lát mỏng để xác định tên đá
- Số hiệu: TCVN8734:2012
- Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
- Ngày ban hành: 01/01/2012
- Nơi ban hành: ***
- Người ký: ***
- Ngày công báo: Không có
- Số công báo: Đang cập nhật
- Ngày hiệu lực:
- Tình trạng hiệu lực: Còn hiệu lực