TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 12888-1:2020

MẪU THẠCH HỌC - PHẦN 1: YÊU CẦU CHUNG KHI GIA CÔNG VÀ PHÂN TÍCH

Petrographic pattern - Part 1: Technical requirement on processing and petrographical analysis of thin slice

Lời nói đầu

TCVN 12888-1:2020 do Tổng Cục Địa chất và Khoáng sản Việt Nam biên soạn, Bộ Tài nguyên và Môi trường đề nghị, Tổng Cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

MẪU THẠCH HỌC - PHẦN 1: YÊU CẦU CHUNG KHI GIA CÔNG VÀ PHÂN TÍCH

Petrographic pattern - Part 1: Technical requirement on processing and petrographical analysis of thin slice

1  Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định các yêu cầu chung về kỹ thuật khi gia công và phân tích mẫu lát mỏng thạch học.

2  Thuật ngữ và định nghĩa

Trong tiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ và định nghĩa sau đây:

2.1.  Mẫu lát mỏng thạch học là mẫu được gia công cưa, cắt, mài mỏng từ mẫu đá cục, bề dày của lát mỏng bằng hoặc nhỏ hom 0,03 mm, diện tích lát lớn hơn hoặc bằng 1,0 cm².

2.2  Phân tích thạch học (petrographical analysis) là một dạng phân tích sử dụng kính hiển vi phân cực dùng ánh sáng thấu quang (khúc xạ) chiếu qua lát mỏng đá để xác định tên các khoáng vật tạo đá gồm: khoáng vật chính, khoáng vật phụ và khoáng vật thứ sinh (nếu có); xác định các dạng kiến trúc cấu tạo của đá; đồng thời nghiên cứu về mức độ biến đổi, đặc điểm, mối quan hệ của các khoáng vật để xác định tên đá, mối liên quan với khoáng hóa của chúng.

2.3  Phân tích mẫu thạch học sơ bộ (preliminary petrogrqphical analysis) là phân tích với yêu cầu xác định hết tên, mô tả sơ bộ các khoáng vật tạo đá, khoáng vật phụ và khoáng vật thứ sinh (nếu có) các kiểu kiến trúc, cấu tạo của đá và gọi được tên đá; trong đó, việc đánh giá hàm lượng phần trăm của các khoáng vật chỉ cần ước lượng bằng mắt thường hoặc so sánh với một bản chuẩn cho trước.

2.4  Phân tích mẫu thạch học chi tiết (detailed petrographical analysis) là phân tích với yêu cầu xác định hết tên và mô tả chi tiết các khoáng vật tạo đá, khoáng vật phụ và khoáng vật thứ sinh (nếu có), các kiểu kiến trúc, cấu tạo của đá và gọi được chính xác tên đá; trong đó, việc đánh giá hàm lượng phần trăm của các khoáng vật phải được đo chính xác thông qua các thiết bị chuyên dụng (các phương tiện hiện đại khác); mô tả chi tiết mức độ biến đổi, đặc điểm, mối quan hệ của các khoáng vật để xác định tên đá, điều kiện thành tạo và mối liên quan với khoáng hóa của chúng.

3  Các yêu cầu kỹ thuật

3.1  Yêu cầu kỹ thuật gia công mẫu lát mỏng thạch học

3.1.1  Mẫu được cắt và mài theo mặt đánh dấu trên mẫu của tổ chức, cá nhân gửi mẫu. Trong trường hợp không có yêu cầu cụ thể, phải cắt, mài mẫu vuông góc với mặt lớp, dải hoặc hướng sắp xếp của khoáng vật đối với đá có cấu tạo định hướng, hoặc đảm bảo tính đại diện của đá.

3.1.2  Mẫu lát mỏng phải có độ dày bằng hoặc nhỏ hơn 0,03 mm, diện tích lớn hơn hoặc bằng 1,0 cm². Trong trường hợp cần mài dày hơn, mỏng hơn hoặc rộng hơn phải có sự thỏa thuận của các bên liên quan.

3.1.3  Trên mặt tiếp xúc của mẫu với kính phủ và kính đế không có bụi bẩn, bột mài và bọt khí. Bề mặt kính phủ và kính đế phải được rửa sạch khỏi nhựa dán.

3.1.4  Số hiệu mẫu được ghi rõ ràng vào lát mỏng và có khả năng bảo quản lâu dài. Phần mẫu cục còn lại được bảo quản để trả lại cùng lát mỏng cho tổ chức cá nhân gửi mẫu.

3.2  Yêu cầu đối với vật liệu gia công mẫu thạch học

3.2.1  Kính đế dán mẫu phải là loại không màu, hai mặt nhẵn, phẳng và hoàn toàn song song, có bề dày từ 0,8 mm đến 1,2 mm, có kích thước chiều rộng từ 30 mm đến 35 mm và chiều dài từ 60 mm đến 80 mm.

3.2.2  Kính phủ mẫu không màu, hai mặt nhẵn, phẳng, hoàn toàn song song, có bề dày từ 0,05 mm đến 0,1 mm, kích